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薄膜測(cè)厚儀的測(cè)量原理和技術(shù)特征

更新時(shí)間:2020-08-12   點(diǎn)擊次數(shù):734次
   薄膜測(cè)厚儀具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點(diǎn),是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測(cè)儀器,廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
 
  測(cè)量原理
  使用兩個(gè)激光傳感器安裝在被測(cè)物(紙張)上下方,將傳感器固定在穩(wěn)定的支架上,確保兩個(gè)傳感器的激光能對(duì)在同一點(diǎn)上。隨著被測(cè)物的傳感器就開始對(duì)其表面進(jìn)行采樣,分別測(cè)量出目標(biāo)上下表面分別與上下成對(duì)的激光位移傳感器距離,測(cè)量值通過串口傳輸?shù)接?jì)算機(jī),再通過我們?cè)谟?jì)算機(jī)上的測(cè)厚軟件進(jìn)行處理,得到目標(biāo)的厚度值。
 
  薄膜測(cè)厚儀的技術(shù)特征:
  嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測(cè)量壓力,同時(shí)支持各種非標(biāo)定制。
 
  測(cè)試過程中測(cè)量頭自動(dòng)升降,有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差。
 
  支持自動(dòng)和手動(dòng)兩種測(cè)量模式,方便用戶自由選擇。
 
  實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果的值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù),方便用戶進(jìn)行判斷。
 
  配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定,保證測(cè)試的精度和數(shù)據(jù)一致性。
 
  系統(tǒng)支持?jǐn)?shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印等許多實(shí)用功能,方便快捷地獲取測(cè)試結(jié)果。
 
  系統(tǒng)由微電腦控制,搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板,方便用戶進(jìn)行試驗(yàn)操作和數(shù)據(jù)查看。
 
  標(biāo)準(zhǔn)的RS232接口,便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸。
 
  支持LystemTM實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng),統(tǒng)一管理試驗(yàn)結(jié)果和試驗(yàn)報(bào)告。